D08-W0313 個体校正
このページは D08-W0313固有の校正プロトコル（2025-02-11）を記録する。工場校正値を他のMiniPIX個体へ転用してはならない。記載のPIXetバージョンは校正時の 1.7.8.936 であり、実行コードのSDKバージョンと同一とは限らない。
項目 |
証明書記載値 |
|---|---|
Timepix Clock |
10.0 MHz |
Ikrum |
1 |
FBK |
156 |
THL Coarse |
8 |
Preamp |
225 |
THL均一化：平均 |
751.666 |
THL均一化：標準偏差 |
2.250 |
THL均一化：マスク画素 |
2 |
Final THL |
707 |
しきい値校正係数 A / B |
11.831 / 49.262 |
最低しきい値 |
3.697 keV |
5 keV相当THL |
691.585（最終要約はTHL=691） |
X線照射による不良画素 |
83 |
最大不良画素クラスター |
66 |
10分安定性試験 |
99.469 % |
60 keV付近のToT分解能 σ |
2.728 keV |
デジタル・バイアステストの不良画素は0であるが、X線試験では83である。検査方法の異なる数字を同一視しないこと。 バイアスリーク試験は15–150 Vの範囲で実施され、表中のリーク電流は各点0.0000 µAと記載されている。これは全条件でリークがゼロであるという一般保証ではない。
ToTエネルギー校正の平均係数は A=1.642、B=22.945、C=19.630、T=4.368。これは証明書に記載された校正パラメータであり、set_threshold() に直接渡す値ではない。APIの set_threshold(threshold_kev) は keV単位でPIXetへ設定を要求する。
判定はイメージング（Counting）・トラッキング（Energy）ともに B / Usable。メーカーが本個体について使用可能と判定したものであり、すべての測定条件での性能保証を意味しない。
出典：D08-W0313 Calibration Protocol pp.1–4。